無(wú)損檢測(cè)技能是一門理論上綜合性較強(qiáng)，又非常重視實(shí)踐環(huán)節(jié)的很有發(fā)展前途的學(xué)科。測(cè)厚儀它涉及到資料的物理性質(zhì)、產(chǎn)品設(shè)計(jì)、制造工藝、斷裂力學(xué)以及有限元核算等諸多方面。 在化工、電子、電力、金屬等職業(yè)中，為了實(shí)現(xiàn)對(duì)各類資料的維護(hù)或裝飾效果，一般要采用噴涂、有色金屬覆蓋以及磷化、陽(yáng)極氧化處理等方法，這樣，便呈現(xiàn)了涂層、鍍層、敷層、貼層或化學(xué)生成膜等概念，我們稱之為“覆層”。
覆層的厚度丈量已成為金屬加工工業(yè)已用戶進(jìn)行制品質(zhì)量檢測(cè)必備的重要的工序。是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)質(zhì)標(biāo)準(zhǔn)的必備手法。目前，國(guó)內(nèi)外已遍及按統(tǒng)一的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)測(cè)定涂鍍層厚度，覆層無(wú)損檢測(cè)的方法和儀器的選擇隨著資料物理性質(zhì)研究方面的逐步前進(jìn)而更加至關(guān)重要。
有關(guān)覆層無(wú)損檢測(cè)方法，主要有：楔切法、光截法、電解法、厚度差丈量法、稱重法、X射線瑩光法、β射線反射法、電容法、磁性丈量法及渦流丈量法等。這些方法中除了后五種外大多都要損壞產(chǎn)品或產(chǎn)品外表，系有損檢測(cè)，丈量手法繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗(yàn)。 X射線和β射線反射法可以無(wú)接觸無(wú)損丈量，但裝置雜亂昂貴，丈量規(guī)模小。因有放射源，故，使用者必須恪守射線防護(hù)標(biāo)準(zhǔn)，一般多用于各層金屬鍍層的厚度丈量。 電容法一般僅在很薄導(dǎo)電體的絕緣覆層厚度測(cè)試上應(yīng)用。
磁性丈量法及渦流丈量法，隨著技能的日益前進(jìn)，特別是近年來(lái)引進(jìn)微處理機(jī)技能后，測(cè)厚儀向微型、智能型、多功能、高精度、實(shí)用化方面邁進(jìn)了一大步。丈量的分辨率已達(dá)0.1μm，精度可達(dá)到1%。又有適用規(guī)模廣，量程寬、操作簡(jiǎn)便、價(jià)廉等特點(diǎn)。是工業(yè)和科研使用較廣泛的儀器。 采用無(wú)損檢測(cè)方法測(cè)厚既不損壞覆層也不損壞基材，檢測(cè)速度快，故能使很多的檢測(cè)作業(yè)經(jīng)濟(jì)地進(jìn)行。
